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　　超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
　　超聲波測(cè)厚儀每一種技術(shù)都有優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，對(duì)一個(gè)特定的應(yīng)用都應(yīng)該考慮選擇哪一種方法：
　　超聲波測(cè)厚儀透過涂層測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)：
　　1、能測(cè)量多種金屬厚度，具代表性的，在鋼中能從1mm到50mm
　　2、只需要一個(gè)回波
　　3、在點(diǎn)蝕情況能更精確地測(cè)量剩余地*小厚度
　　透過涂層測(cè)量缺點(diǎn)：
　　1、涂層*薄為0.125mm
　　2、涂層表面應(yīng)當(dāng)比較光滑
　　3、需要使用2種特定探頭中地一個(gè)4，表面溫度大約為50℃或51.67℃
　　回波——回波測(cè)量?jī)?yōu)點(diǎn)：
　　1、可使用多種普通探頭工作
　　2、常能穿透粗糙表面涂層工作
　　3、用適當(dāng)?shù)奶筋^能在接近500℃或498.89℃的高溫時(shí)工作
　　回波——回波測(cè)量缺點(diǎn)：
　　1、需要多次底面回波，在嚴(yán)重腐蝕的金屬中可能不存在多次底面回波
　　2、厚度范圍比透過涂層測(cè)量限制更多。

標(biāo)簽:                                    超聲波測(cè)厚儀