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　　測厚儀其實是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業生產測厚中廣泛運用。這類涂層測厚儀，根據其測量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個種類：運用α 射線、β 射線、y 射線穿透特性的放射性厚度計;選用超聲波頻率改動的超聲波厚度計以及選用渦流原理的電渦流厚度計;還有電容式厚度計等。

　　此外，運用微波和激光技術制成厚度計，現在還處在研發、試驗期間。涂層測厚儀可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如：搪瓷、橡膠、油漆、塑料等)。既可用于實驗室中的精細測量，也可用于工程現場廣泛地運用在金屬制造業、化工業、航空航天、科研開發等范疇，是企業確保產品質量、商查看控、必不可少的查看儀器。

　　一、作業原理

　　膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

　　a) 磁性法(F 型測量頭)

　　當測量頭與覆蓋層接觸時，測量頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導出覆蓋層的厚度。

　　b) 渦流法(N 型測量頭)

　　利用高頻交變電流在線圈中產生一個電磁場，當測量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產生電渦流，并對測量頭中的線圈產生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。

　　二、常見毛病及掃除辦法

　　涂層測厚儀的毛病主要有示值顯現不穩定、測量差錯較大、屏幕不顯現數據。致使這些毛病的要素既有來自儀器本身，也有被測工件的要素，還有即是來自人為的影響，下面咱們介紹一下掃除這些毛病的辦法。

　　1.示值顯現不穩定

　　致使涂層測厚儀示值顯現不穩定的要素主要是來自工件本身的資料和構造的特別性，比方工件本身是不是為導磁性資料，假如是導磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測厚儀，假如工件為導電體，咱們就得挑選渦流涂層測厚儀。再者，被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現不穩定的重要要素，測厚儀的探頭對那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關鍵即是：測量前鏟除被測件觸摸面的塵埃、細屑、油脂及腐蝕產物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質。再有即是在進行體系調零時，所運用的基體外表也有必要是清洗、潤滑的。如感受測量成果差錯比較大時，請先用儀器裝備的塑料校準片做一輪測驗，如違背答應差錯較遠則有也許是儀器本身出了問題，需返廠家檢修。在體系校按時沒有挑選適宜的基體。基體小平面為7mm，小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

　　2.測量成果差錯大

　　探頭的放置方法對測量有很大影響，在測量中應使探頭與被測件外表堅持筆直。而且探頭的放置時刻不宜過長，避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時不要拖動探頭，由于這么不僅對探頭會形成磨損，也不會得到的測量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常，假如離電磁場十分近時還有也許會發作死機景象。

　　3.屏幕不顯現數據

　　簡略要素即是查看電池是不是電量足夠，斷定電池電量足夠后如發現測量仍是不顯現數值，可以思考是不是有測頭及連線有松動、斷開或觸摸不良景象、電池漏液后腐蝕儀器內電子零部件等要素影響。小編在實際作業中就碰到過因測頭運用不當被化學物品腐蝕，致使儀器不顯現數據的景象。

　　4.人為要素

　　涂層測厚儀之所以可以測量到微米級就由于它可以采納磁通量的細小改動，并把它轉化變成數字信號。運用者在測量過程中假如對儀器不熟悉就也許使探頭違背被測體，使磁通量發作改動形成錯誤測量。運用者初度運用儀器時，要先認真研讀說明書，把握好測量辦法。

　　5.儀器本身發作毛病

　　長時間處于作業狀況的測厚儀，極有也許發作轟動、下跌、等意外，或所在的作業環境有磁場攪擾，致使儀器內部電子零件受攪擾至損，又是由于經多人次、多地址運用，致使儀器測量數據不可靠、屏幕數據顯現呈亂碼、乃至無法開機等，所以主張盡量確保專人運用和保管儀器，發作毛病及時返廠修理，不得私行拆機查看。

　　因而，在運用測厚儀測量的時分要注意以下幾點：

　　(1)在測量的時分要注意側頭與測試外表堅持筆直。

　　(2)在測量時要保持壓力的穩定，否則會影響測量的讀數。

　　(3)在進行測驗的時分要注意標準片基體的金屬磁性和外表粗糙度應當與試件類似。

　　(4)在測量的時分要注意試件的曲率對測量的影響。因而在彎曲的試件外表上測量時不可靠的。

　　(5)測量前要注意周圍其他的電器設備會不會發作磁場，假如會，將會攪擾磁性測厚法的測厚儀。

　　(6) 在進行測驗的時分要注意基體金屬的臨界厚度，假如大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　(7)在進行測驗的時分要注意儀器測頭和被測驗件的要直接接觸，因而超聲波測厚儀在進行對側頭鏟除附著物質。

　　(8)測量時要注意不要在內轉角處和接近試件邊際處測量，由于通常的測厚儀對試件外表形狀的遽然改動很靈敏。

標簽:                                    涂層測厚儀